Diffraction des rayons X sur couches minces
Equipement
Le RRXG dispose d’un diffractomètreMalvern Panalytical X’Pert MRDéquipé d’une source Cu k-alpha pour des mesures de réflectométrie et diffraction X sur couches minces.
Réseau des rayons X et gamma
Ressource technologique de l'Université de Montpellier