Spectroscopie de Fluorescence des Rayons X

Spectroscopie de Fluorescence des Rayons X2018-04-20T11:12:26+00:00

Principes

La fluorescence des rayons X (XRF) dispersive en longueur d’onde est une technique précise et non destructrice qui permet de déterminer la composition élémentaire d’échantillons solides ou liquides. Les rayons X produits par la source dans le spectromètre sont utilisés pour exciter les atomes contenus dans l’échantillon, en stimulant ainsi l’émission de rayons X à des longueurs d’onde caractéristiques des éléments présents. La mesure de l’intensité des rayons X émis aux différentes longueurs d’onde permet d’évaluer la concentration des différents éléments. Grâce à l’utilisation d’une base de données appropriée, l’analyse XRF peut quantifier avec exactitude la composition élémentaire de l’échantillon. Deux types de mesures sont possibles, un mesure semi-quantitative qui permet de déterminer les concentrations élémentaires d’un échantillon inconnu. Une mesure quantitative à partir d’étalons de concentrations connues fournis par le demandeur.

Equipement

Le RRXG dispose d’un spectromètre PANalytical AXIOS Max équipé d’une source de rayons X de type SST-mAX50 spécifiquement adaptée à la détection d’éléments légers, ainsi que d’un passeur d’échantillons et de cellules permettant l’analyse d’échantillons solides et liquides.

Une perleuse est aussi à disposition pour la préparation d’échantillons dilués à partir de faibles quantités de poudres.

Limites de détection

Les limites de détection de l’analyse XRF dépendent de l’élément analysé. La majorité des éléments peuvent être analysés jusqu’à la limite de 0.05% ; pour les éléments légers, les limites de détection sont légèrement plus élevés.