Diffraction des rayons X sur couches minces

Diffraction des rayons X sur couches minces2018-10-08T09:36:46+00:00

Equipement

Le RRXG dispose d’un diffractomètre Malvern Panalytical X’Pert MRD équipé d’une source Cu k-alpha pour des mesures de réflectométrie et diffraction X sur couches minces.