Diffraction des rayons X

Diffraction des rayons X2018-05-22T11:04:35+00:00

Principes

La diffraction des rayons X (DRX, ou XRD pour X-ray diffraction) est une technique d’analyse fondée sur la diffusion élastique de rayons X par un solide, qui donne lieu à des interférences d’autant plus marquées que la matière est ordonnée (cristallin). Pour les matériaux non cristallins, on parle plutôt de diffusion des rayons X.

La DRX utilise un faisceau de rayons X qui, rencontrant un cristal, est renvoyé dans des directions spécifiques déterminées par la Loi de Bragg, qui dépend de la longueur d’onde des rayons X et de la distance entre des plans d’atomes ordonnés sur le réseau cristallin. Par la mesure des angles et de l’intensité des rayons diffractés, il est possible de remonter aux dimensions de la maille et aux symétries de la structure cristalline (groupe d’espace), ainsi que d’obtenir une image tridimensionnelle de la densité électronique dans la maille. À partir de cette densité électronique, la position moyenne des atomes du cristal formant le motif cristallin peut être déterminée ainsi que la nature de ces atomes (dans une certaine mesure), leurs liaisons chimiques, leur agitation thermique et d’autres informations structurales.

Méthodes

La diffraction des rayons X est utilisée pour :